理化检验-物理分册
理化檢驗-物理分冊
이화검험-물리분책
PTCA(PART A:PHYSICAL TESTING)
2007年
4期
192-193,203
,共3页
原子发射光谱法%钒钛生铁控制样品%X射线衍射分析%扫描电子显微镜
原子髮射光譜法%釩鈦生鐵控製樣品%X射線衍射分析%掃描電子顯微鏡
원자발사광보법%범태생철공제양품%X사선연사분석%소묘전자현미경
通过使用X射线衍射仪(XRD)及扫描电子显微镜(SEM)对光谱分析用的控制样品进行相分析和显微分析,同时对光谱控制样品的取样、组织和结构等方面也进行了研究,以保证光谱分析量值传递的规范、严谨,确保光谱分析的准确性.
通過使用X射線衍射儀(XRD)及掃描電子顯微鏡(SEM)對光譜分析用的控製樣品進行相分析和顯微分析,同時對光譜控製樣品的取樣、組織和結構等方麵也進行瞭研究,以保證光譜分析量值傳遞的規範、嚴謹,確保光譜分析的準確性.
통과사용X사선연사의(XRD)급소묘전자현미경(SEM)대광보분석용적공제양품진행상분석화현미분석,동시대광보공제양품적취양、조직화결구등방면야진행료연구,이보증광보분석량치전체적규범、엄근,학보광보분석적준학성.
