核电子学与探测技术
覈電子學與探測技術
핵전자학여탐측기술
NUCLEAR ELECTRONICS & DETECTION TECHNOLOGY
2008年
4期
821-825
,共5页
李清华%王学武%李荐民%康克军%李元景%钟华强
李清華%王學武%李薦民%康剋軍%李元景%鐘華彊
리청화%왕학무%리천민%강극군%리원경%종화강
高能X射线%双能%物质识别%薄材料%多能谱探测器
高能X射線%雙能%物質識彆%薄材料%多能譜探測器
고능X사선%쌍능%물질식별%박재료%다능보탐측기
高能X射线双能成像系统能够对被检物的材料进行识别,但是当被检物的质量厚度较小时,对其材料识别变得很困难.本文提出了利用多能谱探测器的方法,来提高对较薄材料的识别能力,并使用蒙特卡罗方法进行了一系列模拟计算,首先计算了探测器晶体厚度变化时X射线的沉积规律,然后计算了不同探测器结构和参数情况下材料识别的效果.从模拟计算的结果可知,采用适当的多能谱探测器将使得系统对质量厚度较小的物质,尤其是高Z材料的识别效果有明显改善.
高能X射線雙能成像繫統能夠對被檢物的材料進行識彆,但是噹被檢物的質量厚度較小時,對其材料識彆變得很睏難.本文提齣瞭利用多能譜探測器的方法,來提高對較薄材料的識彆能力,併使用矇特卡囉方法進行瞭一繫列模擬計算,首先計算瞭探測器晶體厚度變化時X射線的沉積規律,然後計算瞭不同探測器結構和參數情況下材料識彆的效果.從模擬計算的結果可知,採用適噹的多能譜探測器將使得繫統對質量厚度較小的物質,尤其是高Z材料的識彆效果有明顯改善.
고능X사선쌍능성상계통능구대피검물적재료진행식별,단시당피검물적질량후도교소시,대기재료식별변득흔곤난.본문제출료이용다능보탐측기적방법,래제고대교박재료적식별능력,병사용몽특잡라방법진행료일계렬모의계산,수선계산료탐측기정체후도변화시X사선적침적규률,연후계산료불동탐측기결구화삼수정황하재료식별적효과.종모의계산적결과가지,채용괄당적다능보탐측기장사득계통대질량후도교소적물질,우기시고Z재료적식별효과유명현개선.
