微电子学
微電子學
미전자학
MICROELECTRONICS
2012年
3期
445-448
,共4页
集成电路%LTPD%抽样%失效率
集成電路%LTPD%抽樣%失效率
집성전로%LTPD%추양%실효솔
介绍了集成电路失效率抽样检查的基础理论,论述集成电路标准规范中最常用的LTPD方案,并对LTPD抽样方案中的抽样样本大小进行了计算.
介紹瞭集成電路失效率抽樣檢查的基礎理論,論述集成電路標準規範中最常用的LTPD方案,併對LTPD抽樣方案中的抽樣樣本大小進行瞭計算.
개소료집성전로실효솔추양검사적기출이론,논술집성전로표준규범중최상용적LTPD방안,병대LTPD추양방안중적추양양본대소진행료계산.
