矿产与地质
礦產與地質
광산여지질
MINERAL RESOURCES AND GEOLOGY
2011年
4期
349-352
,共4页
水平电极撒样法光谱分析%硼%缓冲剂
水平電極撒樣法光譜分析%硼%緩遲劑
수평전겁살양법광보분석%붕%완충제
以SiO2(天然)∶C∶NaF=100∶50∶9为缓冲剂,Ge作为内标,水平电极撒样法光谱测定B.方法的测定范围为w(B)/10-6=3～200,检出限为3×10-6.方法经国家一级标准物验证,测定结果与标准值相符.
以SiO2(天然)∶C∶NaF=100∶50∶9為緩遲劑,Ge作為內標,水平電極撒樣法光譜測定B.方法的測定範圍為w(B)/10-6=3～200,檢齣限為3×10-6.方法經國傢一級標準物驗證,測定結果與標準值相符.
이SiO2(천연)∶C∶NaF=100∶50∶9위완충제,Ge작위내표,수평전겁살양법광보측정B.방법적측정범위위w(B)/10-6=3～200,검출한위3×10-6.방법경국가일급표준물험증,측정결과여표준치상부.
