分析试验室
分析試驗室
분석시험실
ANALYTICAL LABORATORY
2012年
3期
11-13
,共3页
电感耦合等离子体质谱%高纯硫%杂质
電感耦閤等離子體質譜%高純硫%雜質
전감우합등리자체질보%고순류%잡질
建立电感耦合等离子体-质谱(ICP-MS)法测定高纯硫粉中Si、P、V、Cr、Mn、Ni、Co、Cu、As、Zn、Zr、Cd、In、Sb、Te、Pb、Bi等17种痕量金属杂质含量的方法.样品用HClO4溶解后挥发硫基体,使样品中杂质元素得到富集,各杂质元素的方法检出限为0.1～50ng/g.方法加标回收率为83％ ～ 117％.各杂质元素均为10ng/mL的混合标准溶液平行7次测定的相对标准偏差均小于5％.该方法能够满足纯度为99.999％ ～99.9999％的高纯硫样品中杂质测定的需要.
建立電感耦閤等離子體-質譜(ICP-MS)法測定高純硫粉中Si、P、V、Cr、Mn、Ni、Co、Cu、As、Zn、Zr、Cd、In、Sb、Te、Pb、Bi等17種痕量金屬雜質含量的方法.樣品用HClO4溶解後揮髮硫基體,使樣品中雜質元素得到富集,各雜質元素的方法檢齣限為0.1～50ng/g.方法加標迴收率為83％ ～ 117％.各雜質元素均為10ng/mL的混閤標準溶液平行7次測定的相對標準偏差均小于5％.該方法能夠滿足純度為99.999％ ～99.9999％的高純硫樣品中雜質測定的需要.
건립전감우합등리자체-질보(ICP-MS)법측정고순류분중Si、P、V、Cr、Mn、Ni、Co、Cu、As、Zn、Zr、Cd、In、Sb、Te、Pb、Bi등17충흔량금속잡질함량적방법.양품용HClO4용해후휘발류기체,사양품중잡질원소득도부집,각잡질원소적방법검출한위0.1～50ng/g.방법가표회수솔위83％ ～ 117％.각잡질원소균위10ng/mL적혼합표준용액평행7차측정적상대표준편차균소우5％.해방법능구만족순도위99.999％ ～99.9999％적고순류양품중잡질측정적수요.
