半导体技术
半導體技術
반도체기술
SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY
2010年
11期
1099-1101
,共3页
粗检漏%干燥时间%标准%水汽含量%误判
粗檢漏%榦燥時間%標準%水汽含量%誤判
조검루%간조시간%표준%수기함량%오판
有些外形较小或内腔腔体体积较小并且检漏合格的电子产品,进行水汽含量测定时有时会出现样品水汽含量超标现象.为证明现行国家标准中粗检漏试验方法(高温氟油加压检漏法)会对产品出现误判的问题,通过一系列试验和研究,证明了外形较小或内腔腔体体积较小存在漏孔的电子产品,严格按照现行的粗检漏试验方法中规定的样品在空气中干燥有效时间(2±1)min内进行试验,试验得到了多种结果,进而对产品形成误判,为此对标准中的该试验方法提出了一些新的建议.
有些外形較小或內腔腔體體積較小併且檢漏閤格的電子產品,進行水汽含量測定時有時會齣現樣品水汽含量超標現象.為證明現行國傢標準中粗檢漏試驗方法(高溫氟油加壓檢漏法)會對產品齣現誤判的問題,通過一繫列試驗和研究,證明瞭外形較小或內腔腔體體積較小存在漏孔的電子產品,嚴格按照現行的粗檢漏試驗方法中規定的樣品在空氣中榦燥有效時間(2±1)min內進行試驗,試驗得到瞭多種結果,進而對產品形成誤判,為此對標準中的該試驗方法提齣瞭一些新的建議.
유사외형교소혹내강강체체적교소병차검루합격적전자산품,진행수기함량측정시유시회출현양품수기함량초표현상.위증명현행국가표준중조검루시험방법(고온불유가압검루법)회대산품출현오판적문제,통과일계렬시험화연구,증명료외형교소혹내강강체체적교소존재루공적전자산품,엄격안조현행적조검루시험방법중규정적양품재공기중간조유효시간(2±1)min내진행시험,시험득도료다충결과,진이대산품형성오판,위차대표준중적해시험방법제출료일사신적건의.
