电子质量
電子質量
전자질량
ELECTRONICS QUALITY
2011年
7期
23-25
,共3页
FPGA%单粒子效应%故障注入%伴随特性
FPGA%單粒子效應%故障註入%伴隨特性
FPGA%단입자효응%고장주입%반수특성
FPGA%SEE%Fault Injection%concomitant characteristic
随着FPGA在航天领域的广泛应用,SRAM型FPGA的单粒子故障也越来越引起人们的重视,用故障注入技术模拟单粒子效应是研究单粒子效应对SRAM器件影响的重要手段,该文主要研究SRAM型FPGA单粒子翻转、单粒子瞬态脉冲的故障注入技术,并在伴随特性的基础上,提出一种单粒子瞬态脉冲故障注入技术。该方法使注入故障脉冲宽度达到真实值的数量级,并且注入时间、位置可控。
隨著FPGA在航天領域的廣汎應用,SRAM型FPGA的單粒子故障也越來越引起人們的重視,用故障註入技術模擬單粒子效應是研究單粒子效應對SRAM器件影響的重要手段,該文主要研究SRAM型FPGA單粒子翻轉、單粒子瞬態脈遲的故障註入技術,併在伴隨特性的基礎上,提齣一種單粒子瞬態脈遲故障註入技術。該方法使註入故障脈遲寬度達到真實值的數量級,併且註入時間、位置可控。
수착FPGA재항천영역적엄범응용,SRAM형FPGA적단입자고장야월래월인기인문적중시,용고장주입기술모의단입자효응시연구단입자효응대SRAM기건영향적중요수단,해문주요연구SRAM형FPGA단입자번전、단입자순태맥충적고장주입기술,병재반수특성적기출상,제출일충단입자순태맥충고장주입기술。해방법사주입고장맥충관도체도진실치적수량급,병차주입시간、위치가공。
With the extensive application of FPGA in aerospace,the SEE fault of SRAM-based FPGA has increasingly attracted attention.SEE simulation using Fault injection is an important way to study the SRAM device＇s Single Event Effect.This paper mainly studies SRAM-based FPGA SEU（Single Event Upset）、SET（Single Event Transient） fault injection techniques and proposes a SET fault injection technique based on concomitant characteristic.This method makes the width of SET pulse true value and the injection time,position controllable.
