微电子学
微電子學
미전자학
MICROELECTRONICS
2010年
5期
747-753
,共7页
罗俊%秦国林%邢宗锋%李志强
囉俊%秦國林%邢宗鋒%李誌彊
라준%진국림%형종봉%리지강
双极型集成电路%可靠性%失效模式%辐射加固
雙極型集成電路%可靠性%失效模式%輻射加固
쌍겁형집성전로%가고성%실효모식%복사가고
介绍了影响双极型集成电路可靠性的主要因素,重点分析了当前国内外双极型集成电路可靠性的研究方法.通过在设计、工艺、原材料和元器件等方面采取对策和措施,可达到提高双极型集成电路可靠性的目的.
介紹瞭影響雙極型集成電路可靠性的主要因素,重點分析瞭噹前國內外雙極型集成電路可靠性的研究方法.通過在設計、工藝、原材料和元器件等方麵採取對策和措施,可達到提高雙極型集成電路可靠性的目的.
개소료영향쌍겁형집성전로가고성적주요인소,중점분석료당전국내외쌍겁형집성전로가고성적연구방법.통과재설계、공예、원재료화원기건등방면채취대책화조시,가체도제고쌍겁형집성전로가고성적목적.