原子能科学技术
原子能科學技術
원자능과학기술
ATOMIC ENERGY SCIENCE AND TECHNOLOGY
2007年
5期
628-632
,共5页
质子%非卢瑟福背散射%气溶胶%H、C、N和O含量
質子%非盧瑟福揹散射%氣溶膠%H、C、N和O含量
질자%비로슬복배산사%기용효%H、C、N화O함량
气溶胶样品中Z＞12以上元素含量的质子荧光(PIXE)分析是北京师范大学GIC4117串列加速器的主要应用领域之一.为弥补PIXE无法分析H、C、N和O等轻元素之不足,在PIXE靶室160°散射角安装金硅面垒探测器,用质子非卢瑟福背散射分析(PNBS)方法对核孔膜采集的气溶胶样品中H、C、N和O等轻元素的含量进行测量.测量得到的气溶胶样品中H和Si元素含量与质子前角散射(PESA)和PIXE的分析结果相近,表明PNBS可用于核孔膜采集的气溶胶样品的分析.
氣溶膠樣品中Z＞12以上元素含量的質子熒光(PIXE)分析是北京師範大學GIC4117串列加速器的主要應用領域之一.為瀰補PIXE無法分析H、C、N和O等輕元素之不足,在PIXE靶室160°散射角安裝金硅麵壘探測器,用質子非盧瑟福揹散射分析(PNBS)方法對覈孔膜採集的氣溶膠樣品中H、C、N和O等輕元素的含量進行測量.測量得到的氣溶膠樣品中H和Si元素含量與質子前角散射(PESA)和PIXE的分析結果相近,錶明PNBS可用于覈孔膜採集的氣溶膠樣品的分析.
기용효양품중Z＞12이상원소함량적질자형광(PIXE)분석시북경사범대학GIC4117천렬가속기적주요응용영역지일.위미보PIXE무법분석H、C、N화O등경원소지불족,재PIXE파실160°산사각안장금규면루탐측기,용질자비로슬복배산사분석(PNBS)방법대핵공막채집적기용효양품중H、C、N화O등경원소적함량진행측량.측량득도적기용효양품중H화Si원소함량여질자전각산사(PESA)화PIXE적분석결과상근,표명PNBS가용우핵공막채집적기용효양품적분석.
