用CMOS线阵图像传感器测量透明材料的折射率
용CMOS선진도상전감기측량투명재료적절사솔
Measuring refraction index of transparent materials using CMOS image sensor
  • 万方数据
    物理实验 물리실험
    PHYSICS EXPERIMENTATION
    2007年 10期 7-10 ,共4页

    车树良%张洪欣%陈思勤

    차수량%장홍흔%진사근

    折射率%透明材料%CMOS线阵图像传感器%干涉条纹 摺射率%透明材料%CMOS線陣圖像傳感器%榦涉條紋
    절사솔%투명재료%CMOS선진도상전감기%간섭조문
    将衍射光栅干涉和CMOS线阵图像传感器技术相结合,提出了自动测量透明材料折射率的方法. 介绍了用CMOS线阵图像传感器来实现透明材料折射率测量的基本原理和数据采集方法. 采用曲线拟合计算条纹移动距离,提高了对干涉条纹移动量测量的准确性,折射率精度可提高到10-5数量级.
    장연사광책간섭화CMOS선진도상전감기기술상결합,제출료자동측량투명재료절사솔적방법. 개소료용CMOS선진도상전감기래실현투명재료절사솔측량적기본원리화수거채집방법. 채용곡선의합계산조문이동거리,제고료대간섭조문이동량측량적준학성,절사솔정도가제고도10-5수량급.
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