测试技术学报
測試技術學報
측시기술학보
JOURNAL OF TEST AND MEASUREMENT TECHNOLOGY
2003年
4期
334-336
,共3页
光斑测量%亚微米记录%高密度光盘%测试仪器
光斑測量%亞微米記錄%高密度光盤%測試儀器
광반측량%아미미기록%고밀도광반%측시의기
详细描述了进行亚微米、深亚微米光记录和探测的测试仪器,其探测功率可达30 mW,最小的探测时间为20 ns,探测的最小光点200 nm左右,带有CCD观察的系统可方便地定位及进行图像处理,整个测量过程均在计算机控制下进行,操作非常方便.它是对高密度光盘材料记录性能进行测量.以及对深亚微米,乃至纳米记录材料进行研究的有效工具.
詳細描述瞭進行亞微米、深亞微米光記錄和探測的測試儀器,其探測功率可達30 mW,最小的探測時間為20 ns,探測的最小光點200 nm左右,帶有CCD觀察的繫統可方便地定位及進行圖像處理,整箇測量過程均在計算機控製下進行,操作非常方便.它是對高密度光盤材料記錄性能進行測量.以及對深亞微米,迺至納米記錄材料進行研究的有效工具.
상세묘술료진행아미미、심아미미광기록화탐측적측시의기,기탐측공솔가체30 mW,최소적탐측시간위20 ns,탐측적최소광점200 nm좌우,대유CCD관찰적계통가방편지정위급진행도상처리,정개측량과정균재계산궤공제하진행,조작비상방편.타시대고밀도광반재료기록성능진행측량.이급대심아미미,내지납미기록재료진행연구적유효공구.
