桂林电子工业学院学报
桂林電子工業學院學報
계림전자공업학원학보
JOURNAL OF GUILIN INSTITUTE OF ELECTRONIC TECHNOLOGY
2000年
4期
14-20
,共7页
可测性%边界扫描%MCM
可測性%邊界掃描%MCM
가측성%변계소묘%MCM
IEEE-1149.1测试标准已被广泛认为是解决复杂MCM和PCB测试问题的主流测试技术.本文概要论及与测试相关的设计特性,详细讨论了不同MCM的边界扫描测试策略.
IEEE-1149.1測試標準已被廣汎認為是解決複雜MCM和PCB測試問題的主流測試技術.本文概要論及與測試相關的設計特性,詳細討論瞭不同MCM的邊界掃描測試策略.
IEEE-1149.1측시표준이피엄범인위시해결복잡MCM화PCB측시문제적주류측시기술.본문개요론급여측시상관적설계특성,상세토론료불동MCM적변계소묘측시책략.