微电子学
微電子學
미전자학
MICROELECTRONICS
2007年
6期
852-856
,共5页
内建自测试%NoC%串扰%测试向量
內建自測試%NoC%串擾%測試嚮量
내건자측시%NoC%천우%측시향량
针对大规模NoC芯片设计中BIST测试时间长和消耗面积大的问题,提出一种测试NoC内switch间互连线串扰的BIST方法.对于互连线工作在1 GHz以下的大规模NoC,电容耦合是影响串扰的主要因素.通过并行测试结构,同时对几条受害线进行测试,有效减小了测试时间和电路面积.从理论角度对所提方法的测试时间和功率损耗进行了分析,以3×3 mesh结构的NoC为例,验证了所提方案和理论分析的正确性.
針對大規模NoC芯片設計中BIST測試時間長和消耗麵積大的問題,提齣一種測試NoC內switch間互連線串擾的BIST方法.對于互連線工作在1 GHz以下的大規模NoC,電容耦閤是影響串擾的主要因素.通過併行測試結構,同時對幾條受害線進行測試,有效減小瞭測試時間和電路麵積.從理論角度對所提方法的測試時間和功率損耗進行瞭分析,以3×3 mesh結構的NoC為例,驗證瞭所提方案和理論分析的正確性.
침대대규모NoC심편설계중BIST측시시간장화소모면적대적문제,제출일충측시NoC내switch간호련선천우적BIST방법.대우호련선공작재1 GHz이하적대규모NoC,전용우합시영향천우적주요인소.통과병행측시결구,동시대궤조수해선진행측시,유효감소료측시시간화전로면적.종이론각도대소제방법적측시시간화공솔손모진행료분석,이3×3 mesh결구적NoC위례,험증료소제방안화이론분석적정학성.
