微电子学与计算机
微電子學與計算機
미전자학여계산궤
MICROELECTRONICS & COMPUTER
2006年
12期
107-110
,共4页
总剂量效应%单粒子效应%位移损伤%SRAM型FPGA
總劑量效應%單粒子效應%位移損傷%SRAM型FPGA
총제량효응%단입자효응%위이손상%SRAM형FPGA
以Xilinx的FPGA为例,结合相关试验数据,分析了空间总剂量效应、单粒子翻转、单粒子闩锁、单粒子功能中断、单粒子烧毁、单粒子瞬态脉冲和位移损伤等辐射效应对SRAM即GA器件的漏极电流、阈值电压、逻辑功能等影响,分析了辐射效应的机理以及FPGA的失效模式.文章可以为SRAM型KFPGA在航天领域中的应用提供参考.
以Xilinx的FPGA為例,結閤相關試驗數據,分析瞭空間總劑量效應、單粒子翻轉、單粒子閂鎖、單粒子功能中斷、單粒子燒燬、單粒子瞬態脈遲和位移損傷等輻射效應對SRAM即GA器件的漏極電流、閾值電壓、邏輯功能等影響,分析瞭輻射效應的機理以及FPGA的失效模式.文章可以為SRAM型KFPGA在航天領域中的應用提供參攷.
이Xilinx적FPGA위례,결합상관시험수거,분석료공간총제량효응、단입자번전、단입자산쇄、단입자공능중단、단입자소훼、단입자순태맥충화위이손상등복사효응대SRAM즉GA기건적루겁전류、역치전압、라집공능등영향,분석료복사효응적궤리이급FPGA적실효모식.문장가이위SRAM형KFPGA재항천영역중적응용제공삼고.
