基于遗传粒子群算法的模拟电路测试点选择
기우유전입자군산법적모의전로측시점선택
Test Point Selection of Analog Circuits Using Genetic Particle Swarm Optimization Algorithm
  • 万方数据
    计测技术 계측기술
    METROLOGY & MEASUREMENT TECHNOLOGY
    2011年 2期 1-3,20 ,共4页

    罗沛清%梁青阳%江钦龙

    라패청%량청양%강흠룡

    模拟电路%故障诊断%遗传粒子群算法%测试点选择 模擬電路%故障診斷%遺傳粒子群算法%測試點選擇
    모의전로%고장진단%유전입자군산법%측시점선택
    针对模拟电路测试点选择的特点,提出利用遗传粒子群算法与整数编码故障字典相结合的方法进行测试点选择.首先根据各测试点的数据建立整数编码故障字典,然后利用遗传粒子群算法选取最优测试点.将该方法应用于实际模拟滤波器的测试点选择,结果表明:利用该方法很容易求出模拟电路的全局最优测试点.
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