微处理机
微處理機
미처리궤
MICROPROCESSORS
2011年
4期
12-15,20
,共5页
软件自测试%功能测试%测试
軟件自測試%功能測試%測試
연건자측시%공능측시%측시
与集成电路( ASIC)性能日益强大、制造成本日益低廉相反,测试成本在不断增加,传统的测试技术已经不能满足高速、多时钟SOC芯片的测试要求,开发新的测试技术、降低测试成本已经成为必然.提出了一种软件自测试方法,它利用被测芯片的处理器核资源,通过执行测试程序来完成芯片的自我诊断.该方法可以实现芯片全速( At - Speed)测试,有效降低对高速、昂贵测试资源的依赖,可广泛应用于故障定位精度要求不高的测试过程中.最后,使用该自测试方法,在低成本测试机上实现了一款高性能音频SOC芯片测试.
與集成電路( ASIC)性能日益彊大、製造成本日益低廉相反,測試成本在不斷增加,傳統的測試技術已經不能滿足高速、多時鐘SOC芯片的測試要求,開髮新的測試技術、降低測試成本已經成為必然.提齣瞭一種軟件自測試方法,它利用被測芯片的處理器覈資源,通過執行測試程序來完成芯片的自我診斷.該方法可以實現芯片全速( At - Speed)測試,有效降低對高速、昂貴測試資源的依賴,可廣汎應用于故障定位精度要求不高的測試過程中.最後,使用該自測試方法,在低成本測試機上實現瞭一款高性能音頻SOC芯片測試.
여집성전로( ASIC)성능일익강대、제조성본일익저렴상반,측시성본재불단증가,전통적측시기술이경불능만족고속、다시종SOC심편적측시요구,개발신적측시기술、강저측시성본이경성위필연.제출료일충연건자측시방법,타이용피측심편적처리기핵자원,통과집행측시정서래완성심편적자아진단.해방법가이실현심편전속( At - Speed)측시,유효강저대고속、앙귀측시자원적의뢰,가엄범응용우고장정위정도요구불고적측시과정중.최후,사용해자측시방법,재저성본측시궤상실현료일관고성능음빈SOC심편측시.
