纳米技术与精密工程
納米技術與精密工程
납미기술여정밀공정
NANOTECHNOLOGY AND PRECISION ENGINEERING
2010年
5期
394-400
,共7页
鄢志丹%孙立东%李艳宁%胡小唐%ZEPPENFELD Peter
鄢誌丹%孫立東%李豔寧%鬍小唐%ZEPPENFELD Peter
언지단%손립동%리염저%호소당%ZEPPENFELD Peter
荧光成像%单分子纳米级定位%图像信噪比%二维高斯曲面
熒光成像%單分子納米級定位%圖像信譟比%二維高斯麯麵
형광성상%단분자납미급정위%도상신조비%이유고사곡면
荧光成像系统的技术指标、采集的荧光图像信噪比和单分子定位算法是影响单分子定位精度的3大因素.在介绍单分子定位的基本极限精度和理论计算精度的基础上,提出了一种被称为图像去噪高斯掩膜算法的单分子定位算法.依据实验用单分子成像系统的具体配置,通过计算机仿真表明,该算法良好的去噪处理和高斯加权质心运算方式,不仅能实现纳米级的定位精度,而且能突破一般理论计算精度的限制,接近基本极限精度,特别是在背景噪声较大的情况下,其优势更加明显.这对单分子的精确定位和跟踪、扩散方式分析、转移速率计算等具有重要的意义.
熒光成像繫統的技術指標、採集的熒光圖像信譟比和單分子定位算法是影響單分子定位精度的3大因素.在介紹單分子定位的基本極限精度和理論計算精度的基礎上,提齣瞭一種被稱為圖像去譟高斯掩膜算法的單分子定位算法.依據實驗用單分子成像繫統的具體配置,通過計算機倣真錶明,該算法良好的去譟處理和高斯加權質心運算方式,不僅能實現納米級的定位精度,而且能突破一般理論計算精度的限製,接近基本極限精度,特彆是在揹景譟聲較大的情況下,其優勢更加明顯.這對單分子的精確定位和跟蹤、擴散方式分析、轉移速率計算等具有重要的意義.
형광성상계통적기술지표、채집적형광도상신조비화단분자정위산법시영향단분자정위정도적3대인소.재개소단분자정위적기본겁한정도화이론계산정도적기출상,제출료일충피칭위도상거조고사엄막산법적단분자정위산법.의거실험용단분자성상계통적구체배치,통과계산궤방진표명,해산법량호적거조처리화고사가권질심운산방식,불부능실현납미급적정위정도,이차능돌파일반이론계산정도적한제,접근기본겁한정도,특별시재배경조성교대적정황하,기우세경가명현.저대단분자적정학정위화근종、확산방식분석、전이속솔계산등구유중요적의의.
