东南大学学报（自然科学版）
東南大學學報（自然科學版）
동남대학학보（자연과학판）
JOURNAL OF SOUTHEAST UNIVERSITY
2011年
3期
518-521
,共4页
周昕杰%李蕾蕾%徐睿%于宗光
週昕傑%李蕾蕾%徐睿%于宗光
주흔걸%리뢰뢰%서예%우종광
总剂量效应%EEPROM%抗辐照加固
總劑量效應%EEPROM%抗輻照加固
총제량효응%EEPROM%항복조가고
当普通EEPROM单元在太空中应用时,会受到辐照效应的影响,导致单元可靠性降低,寿命缩短,为此,基于0.18 μm工艺,设计出一种新型抗辐照EEPROM单元.新单元采用环形栅和场区隔离管加固结构.加固后,单元面积为9.56 μm2,抗总剂量效应能力大于1 500 Gy,抗辐照能力明显优于普通结构.为明确失效机制,基于新单元结构在辐照条件下的阈值退化曲线,分析了辐照效应对存储单元的影响,并与普通单元的辐照效应相比较.结果表明:总剂量效应引起的边缘寄生管源/漏端漏电及场氧下漏电是深亚微米工艺EEPROM失效的主要机制.新单元针对失效机制的加固设计,提高了抗辐照能力和可靠性.该设计为满足太空应用中抗辐照存储器的需要,提供了良好的基础.
噹普通EEPROM單元在太空中應用時,會受到輻照效應的影響,導緻單元可靠性降低,壽命縮短,為此,基于0.18 μm工藝,設計齣一種新型抗輻照EEPROM單元.新單元採用環形柵和場區隔離管加固結構.加固後,單元麵積為9.56 μm2,抗總劑量效應能力大于1 500 Gy,抗輻照能力明顯優于普通結構.為明確失效機製,基于新單元結構在輻照條件下的閾值退化麯線,分析瞭輻照效應對存儲單元的影響,併與普通單元的輻照效應相比較.結果錶明:總劑量效應引起的邊緣寄生管源/漏耑漏電及場氧下漏電是深亞微米工藝EEPROM失效的主要機製.新單元針對失效機製的加固設計,提高瞭抗輻照能力和可靠性.該設計為滿足太空應用中抗輻照存儲器的需要,提供瞭良好的基礎.
당보통EEPROM단원재태공중응용시,회수도복조효응적영향,도치단원가고성강저,수명축단,위차,기우0.18 μm공예,설계출일충신형항복조EEPROM단원.신단원채용배형책화장구격리관가고결구.가고후,단원면적위9.56 μm2,항총제량효응능력대우1 500 Gy,항복조능력명현우우보통결구.위명학실효궤제,기우신단원결구재복조조건하적역치퇴화곡선,분석료복조효응대존저단원적영향,병여보통단원적복조효응상비교.결과표명:총제량효응인기적변연기생관원/루단루전급장양하루전시심아미미공예EEPROM실효적주요궤제.신단원침대실효궤제적가고설계,제고료항복조능력화가고성.해설계위만족태공응용중항복조존저기적수요,제공료량호적기출.
