同济大学学报(自然科学版)
同濟大學學報(自然科學版)
동제대학학보(자연과학판)
JOURNAL OF TONGJI UNIVERSITY
2002年
10期
1239-1243
,共5页
CMOS电路%开路故障%测试产生%瞬态电流测试%D前沿
CMOS電路%開路故障%測試產生%瞬態電流測試%D前沿
CMOS전로%개로고장%측시산생%순태전류측시%D전연
在不考虑冒险的情况下,对于CMOS电路中的开路故障,探讨了利用FAN算法进行瞬态电流测试产生的可能性.定义了三种不同的D前沿,并将测试产生分为激活故障、使无故障电路和故障电路的瞬态电流差别最大化、减少旁路的影响三个部分. 实验结果说明,在不考虑冒险的情况下,将FAN算法应用于瞬态电流测试产生是可行的.
在不攷慮冒險的情況下,對于CMOS電路中的開路故障,探討瞭利用FAN算法進行瞬態電流測試產生的可能性.定義瞭三種不同的D前沿,併將測試產生分為激活故障、使無故障電路和故障電路的瞬態電流差彆最大化、減少徬路的影響三箇部分. 實驗結果說明,在不攷慮冒險的情況下,將FAN算法應用于瞬態電流測試產生是可行的.
재불고필모험적정황하,대우CMOS전로중적개로고장,탐토료이용FAN산법진행순태전류측시산생적가능성.정의료삼충불동적D전연,병장측시산생분위격활고장、사무고장전로화고장전로적순태전류차별최대화、감소방로적영향삼개부분. 실험결과설명,재불고필모험적정황하,장FAN산법응용우순태전류측시산생시가행적.
