CAJ | 학술논문

万方数据

核技术 핵기술
NUCLEAR TECHNIQUES
2007年 4期 323-327 ,共5页

金运范%姚存峰%宋银%刘杰%王志光%孙友梅%张崇宏%段敬来

금운범%요존봉%송은%류걸%왕지광%손우매%장숭굉%단경래

结构稳定性%C60薄膜%快重离子%高密度电子激发效应結構穩定性%C60薄膜%快重離子%高密度電子激髮效應
결구은정성%C60박막%쾌중리자%고밀도전자격발효응

用傅立叶变换红外光谱、X射线衍射谱、X射线光电子谱和拉曼散射技术分析了能量为GeV量级的S、Fe、Xe、和U离子,以及120keV的H离子在室温下辐照多层堆积C60薄膜的结构稳定性,即快重离子在C60薄膜中由高密度电子激发引起的效应,主要包括C60分子的聚合、分子结构的损伤、新的高温-高压相的形成和晶态向非晶态的转变.
용부립협변환홍외광보、X사선연사보、X사선광전자보화랍만산사기술분석료능량위GeV량급적S、Fe、Xe、화U리자,이급120keV적H리자재실온하복조다층퇴적C60박막적결구은정성,즉쾌중리자재C60박막중유고밀도전자격발인기적효응,주요포괄C60분자적취합、분자결구적손상、신적고온-고압상적형성화정태향비정태적전변.