测控技术
測控技術
측공기술
MEASUREMENT & CONTROL TECHNOLOGY
1999年
1期
28-30
,共3页
可测试性%可测试性设计%边界扫描测试%IEEE1149.1标准
可測試性%可測試性設計%邊界掃描測試%IEEE1149.1標準
가측시성%가측시성설계%변계소묘측시%IEEE1149.1표준
在分析VLSI可测试性设计技术的发展情况和设计准则的基础上,讨论了研究与发展IEEE 1149.1可测试性设计技术的重要意义,以及该技术在我国民用和军用工业应用的前景.
在分析VLSI可測試性設計技術的髮展情況和設計準則的基礎上,討論瞭研究與髮展IEEE 1149.1可測試性設計技術的重要意義,以及該技術在我國民用和軍用工業應用的前景.
재분석VLSI가측시성설계기술적발전정황화설계준칙적기출상,토론료연구여발전IEEE 1149.1가측시성설계기술적중요의의,이급해기술재아국민용화군용공업응용적전경.
