中国测试技术
中國測試技術
중국측시기술
CHINA MEASUREMENT TECHNOLOGY
2005年
1期
69-71
,共3页
片上系统(SOC)%超大规模集成电路%嵌入式DRAM%内建自测试
片上繫統(SOC)%超大規模集成電路%嵌入式DRAM%內建自測試
편상계통(SOC)%초대규모집성전로%감입식DRAM%내건자측시
通过对比分析了嵌入式DRAM的传统测试方法和内建自测试(BIST)方法,提出了嵌入式DRAM的内建自测试(BIST)方案,该方案具有测试生成快,节约测试成本等优点,对其它类型电路的测试也有很好的借鉴价值.
通過對比分析瞭嵌入式DRAM的傳統測試方法和內建自測試(BIST)方法,提齣瞭嵌入式DRAM的內建自測試(BIST)方案,該方案具有測試生成快,節約測試成本等優點,對其它類型電路的測試也有很好的藉鑒價值.
통과대비분석료감입식DRAM적전통측시방법화내건자측시(BIST)방법,제출료감입식DRAM적내건자측시(BIST)방안,해방안구유측시생성쾌,절약측시성본등우점,대기타류형전로적측시야유흔호적차감개치.
