真空科学与技术学报
真空科學與技術學報
진공과학여기술학보
JOURNAL OF VACUUM SCIENCE AND TECHNOLOGY
2007年
2期
146-150
,共5页
感应耦合等离子体%发射光谱%介质刻蚀%扫描电镜
感應耦閤等離子體%髮射光譜%介質刻蝕%掃描電鏡
감응우합등리자체%발사광보%개질각식%소묘전경
使用感应耦合等离子体技术,通过改变源气体流量比R(R=[C4F8]/{[C4F8]+[Ar]})、射频源功率、自偏压等条件进行了SiO2介质刻蚀实验研究.碳氟等离子体的特征由朗谬探针和发射光谱技术来表征.结果表明,SiO2的刻蚀速率随放电源功率和射频自偏压的增大而单调上升,与R的关系则存在R=8%处的刻蚀速率峰值.C2基团的发射谱线强度随R的变化类似于SiO2刻蚀速率对R的依赖关系,对此给出了解释.在此基础上,对SiO2介质光栅进行了刻蚀.结果显示,在较大的R及自偏压等条件下,刻蚀后的槽形呈轻微的锥形图案,同时光刻胶掩膜图形出现分叉.结合扫描电镜技术对此进行了分析,认为光刻胶表面与侧面的能量传递和聚合物再沉积是导致出现上述现象的原因.
使用感應耦閤等離子體技術,通過改變源氣體流量比R(R=[C4F8]/{[C4F8]+[Ar]})、射頻源功率、自偏壓等條件進行瞭SiO2介質刻蝕實驗研究.碳氟等離子體的特徵由朗謬探針和髮射光譜技術來錶徵.結果錶明,SiO2的刻蝕速率隨放電源功率和射頻自偏壓的增大而單調上升,與R的關繫則存在R=8%處的刻蝕速率峰值.C2基糰的髮射譜線彊度隨R的變化類似于SiO2刻蝕速率對R的依賴關繫,對此給齣瞭解釋.在此基礎上,對SiO2介質光柵進行瞭刻蝕.結果顯示,在較大的R及自偏壓等條件下,刻蝕後的槽形呈輕微的錐形圖案,同時光刻膠掩膜圖形齣現分扠.結閤掃描電鏡技術對此進行瞭分析,認為光刻膠錶麵與側麵的能量傳遞和聚閤物再沉積是導緻齣現上述現象的原因.
사용감응우합등리자체기술,통과개변원기체류량비R(R=[C4F8]/{[C4F8]+[Ar]})、사빈원공솔、자편압등조건진행료SiO2개질각식실험연구.탄불등리자체적특정유랑류탐침화발사광보기술래표정.결과표명,SiO2적각식속솔수방전원공솔화사빈자편압적증대이단조상승,여R적관계칙존재R=8%처적각식속솔봉치.C2기단적발사보선강도수R적변화유사우SiO2각식속솔대R적의뢰관계,대차급출료해석.재차기출상,대SiO2개질광책진행료각식.결과현시,재교대적R급자편압등조건하,각식후적조형정경미적추형도안,동시광각효엄막도형출현분차.결합소묘전경기술대차진행료분석,인위광각효표면여측면적능량전체화취합물재침적시도치출현상술현상적원인.