电子产品可靠性与环境试验
電子產品可靠性與環境試驗
전자산품가고성여배경시험
ELECTRONIC PRODUCT RELIABILITY AND ENVIRONMENTAL TESTING
2009年
6期
1-4
,共4页
张国光%郑学仁%张顺%张国俊%郑春扬%吴朝晖
張國光%鄭學仁%張順%張國俊%鄭春颺%吳朝暉
장국광%정학인%장순%장국준%정춘양%오조휘
金属-氧化物-半导体器件%功率品体管%封装%导通电阻%器件可靠性
金屬-氧化物-半導體器件%功率品體管%封裝%導通電阻%器件可靠性
금속-양화물-반도체기건%공솔품체관%봉장%도통전조%기건가고성
功率MOS晶体管的正向导通电阻是器件的重要指标,严重影响器件的使用可靠性.从封装材料、封装工艺等方面论述功率MOS管降低导通电阻、控制空洞、提高器件可靠性的封装技术,并通过一些实例来阐述工艺控制的效果.
功率MOS晶體管的正嚮導通電阻是器件的重要指標,嚴重影響器件的使用可靠性.從封裝材料、封裝工藝等方麵論述功率MOS管降低導通電阻、控製空洞、提高器件可靠性的封裝技術,併通過一些實例來闡述工藝控製的效果.
공솔MOS정체관적정향도통전조시기건적중요지표,엄중영향기건적사용가고성.종봉장재료、봉장공예등방면논술공솔MOS관강저도통전조、공제공동、제고기건가고성적봉장기술,병통과일사실례래천술공예공제적효과.
