电子元件与材料
電子元件與材料
전자원건여재료
ELECTRONIC COMPONENTS & MATERIALS
2012年
7期
23-26
,共4页
张鹏%张枨%鞠晓雨%李祥超
張鵬%張棖%鞠曉雨%李祥超
장붕%장정%국효우%리상초
压敏电阻%SnO2%ZnO%老化%残压
壓敏電阻%SnO2%ZnO%老化%殘壓
압민전조%SnO2%ZnO%노화%잔압
采用电子扫描显微镜对SnO2压敏电阻和ZnO压敏电阻内部结构进行了综合比较,并结合离子迁移理论,利用冲击发生器和热稳定仪器进行了大量实验,结果表明:SnO2压敏电阻较ZnO压敏电阻内部相态更简单、结构更均匀,在冲击老化和工频老化中表现更好；在大电流冲击时,SnO2压敏电阻的残压远远高于ZnO压敏电阻,这一缺陷限制了其在低压浪涌防护中的应用,因此今后在如何减低SnO2压敏电阻的残压方面还有待更加深入的研究.
採用電子掃描顯微鏡對SnO2壓敏電阻和ZnO壓敏電阻內部結構進行瞭綜閤比較,併結閤離子遷移理論,利用遲擊髮生器和熱穩定儀器進行瞭大量實驗,結果錶明:SnO2壓敏電阻較ZnO壓敏電阻內部相態更簡單、結構更均勻,在遲擊老化和工頻老化中錶現更好；在大電流遲擊時,SnO2壓敏電阻的殘壓遠遠高于ZnO壓敏電阻,這一缺陷限製瞭其在低壓浪湧防護中的應用,因此今後在如何減低SnO2壓敏電阻的殘壓方麵還有待更加深入的研究.
채용전자소묘현미경대SnO2압민전조화ZnO압민전조내부결구진행료종합비교,병결합리자천이이론,이용충격발생기화열은정의기진행료대량실험,결과표명:SnO2압민전조교ZnO압민전조내부상태경간단、결구경균균,재충격노화화공빈노화중표현경호；재대전류충격시,SnO2압민전조적잔압원원고우ZnO압민전조,저일결함한제료기재저압랑용방호중적응용,인차금후재여하감저SnO2압민전조적잔압방면환유대경가심입적연구.
