微处理机
微處理機
미처리궤
MICROPROCESSORS
2010年
3期
16-17,20
,共3页
探针卡%测试设备%测试程序
探針卡%測試設備%測試程序
탐침잡%측시설비%측시정서
从探针卡、测试设备、集成电路测试程序等几个不同的方面,在理论基础上结合实际工作中遇到的问题提出采取的有效解决方法,再针对不同的测试方法进行比较,从而达到提高集成电路中测效率的目的.
從探針卡、測試設備、集成電路測試程序等幾箇不同的方麵,在理論基礎上結閤實際工作中遇到的問題提齣採取的有效解決方法,再針對不同的測試方法進行比較,從而達到提高集成電路中測效率的目的.
종탐침잡、측시설비、집성전로측시정서등궤개불동적방면,재이론기출상결합실제공작중우도적문제제출채취적유효해결방법,재침대불동적측시방법진행비교,종이체도제고집성전로중측효솔적목적.
