半导体光电
半導體光電
반도체광전
SEMICONDUCTOR OPTOELECTRONICS
2006年
1期
49-51
,共3页
赵凯生%刘爽%龙再川%杜昊%冯林
趙凱生%劉爽%龍再川%杜昊%馮林
조개생%류상%룡재천%두호%풍림
室温红外探测%薄膜%电阻温度系数%测试技术
室溫紅外探測%薄膜%電阻溫度繫數%測試技術
실온홍외탐측%박막%전조온도계수%측시기술
薄膜电阻温度系数的准确测定对红外探测薄膜材料的研究有着十分重要的意义.研究了薄膜电阻温度系数实时测试技术,重点考虑微弱信号放大和噪声有效抑制,实现了微小间隔下对温度和电阻同时采集,以及数据的精确处理.采用该测试系统准确地测试出几种常用红外探测薄膜材料的电阻温度系数.
薄膜電阻溫度繫數的準確測定對紅外探測薄膜材料的研究有著十分重要的意義.研究瞭薄膜電阻溫度繫數實時測試技術,重點攷慮微弱信號放大和譟聲有效抑製,實現瞭微小間隔下對溫度和電阻同時採集,以及數據的精確處理.採用該測試繫統準確地測試齣幾種常用紅外探測薄膜材料的電阻溫度繫數.
박막전조온도계수적준학측정대홍외탐측박막재료적연구유착십분중요적의의.연구료박막전조온도계수실시측시기술,중점고필미약신호방대화조성유효억제,실현료미소간격하대온도화전조동시채집,이급수거적정학처리.채용해측시계통준학지측시출궤충상용홍외탐측박막재료적전조온도계수.
