岩矿测试
巖礦測試
암광측시
ROCK AND MINERAL ANALYSIS
2011年
6期
669-676
,共8页
激光粒度分析%图像分析法%筛析法%粒度分布参数
激光粒度分析%圖像分析法%篩析法%粒度分佈參數
격광립도분석%도상분석법%사석법%립도분포삼수
近年来激光粒度分析法在沉积物粒度分析方面的应用得到了进一步扩展.本文利用美国麦克奇公司生产的S3500型激光粒度分析仪开展沉积物粒度分析方法实验,研究表明:S3500型仪器较优的样品用量约为0.2 g;稀释过程会影响样品的粒度分布;样品分取方式会带来不同的随机误差.与薄片图像法和筛析法两种传统粒度分析方法获得的粒度分布参数比较表明:激光法测得的平均粒径较薄片图像法和筛析法偏细;激光法和筛析法的峰度相关性较好.采用Malvern 2000和Micro S3500两种激光粒度分析仪测量结果的比较表明:Malvern 2000测得的平均粒径较Micro S3500测得的平均粒径偏细,但二者的相关性很好(r=0.9574),研究认为这两种粒度仪的测试结果会给岩石粒度定名带来差异.由于各种粒度分析方法存在差异和局限性,在实际工作中粒度分析应尽可能建立在同一测量体系上,以便资料对比.
近年來激光粒度分析法在沉積物粒度分析方麵的應用得到瞭進一步擴展.本文利用美國麥剋奇公司生產的S3500型激光粒度分析儀開展沉積物粒度分析方法實驗,研究錶明:S3500型儀器較優的樣品用量約為0.2 g;稀釋過程會影響樣品的粒度分佈;樣品分取方式會帶來不同的隨機誤差.與薄片圖像法和篩析法兩種傳統粒度分析方法穫得的粒度分佈參數比較錶明:激光法測得的平均粒徑較薄片圖像法和篩析法偏細;激光法和篩析法的峰度相關性較好.採用Malvern 2000和Micro S3500兩種激光粒度分析儀測量結果的比較錶明:Malvern 2000測得的平均粒徑較Micro S3500測得的平均粒徑偏細,但二者的相關性很好(r=0.9574),研究認為這兩種粒度儀的測試結果會給巖石粒度定名帶來差異.由于各種粒度分析方法存在差異和跼限性,在實際工作中粒度分析應儘可能建立在同一測量體繫上,以便資料對比.
근년래격광립도분석법재침적물립도분석방면적응용득도료진일보확전.본문이용미국맥극기공사생산적S3500형격광립도분석의개전침적물립도분석방법실험,연구표명:S3500형의기교우적양품용량약위0.2 g;희석과정회영향양품적립도분포;양품분취방식회대래불동적수궤오차.여박편도상법화사석법량충전통립도분석방법획득적립도분포삼수비교표명:격광법측득적평균립경교박편도상법화사석법편세;격광법화사석법적봉도상관성교호.채용Malvern 2000화Micro S3500량충격광립도분석의측량결과적비교표명:Malvern 2000측득적평균립경교Micro S3500측득적평균립경편세,단이자적상관성흔호(r=0.9574),연구인위저량충립도의적측시결과회급암석립도정명대래차이.유우각충립도분석방법존재차이화국한성,재실제공작중립도분석응진가능건립재동일측량체계상,이편자료대비.
