机械设计
機械設計
궤계설계
Journal of Machine Design
2008年
5期
12-14
,共3页
顾彩香%李庆柱%李磊%朱光耀
顧綵香%李慶柱%李磊%硃光耀
고채향%리경주%리뢰%주광요
纳米粒子%X射线衍射法%透射电子显微镜法%原子力显微镜法%粒径
納米粒子%X射線衍射法%透射電子顯微鏡法%原子力顯微鏡法%粒徑
납미입자%X사선연사법%투사전자현미경법%원자력현미경법%립경
以纳米碳酸钙粒子作为测量对象,分别采用x射线衍射法(XRD)、透射电子显微镜法(TEM)及原子力显微镜法(AFM)测量其粒径.结果表明:x射线衍射法测量的纳米粒子粒径可能小于纳米粒子实际平均粒径,透射电子显微镜法和原子力显微镜法测量的纳米粒子粒径可能大于纳米粒子实际平均粒径.分析探讨了3种方法的应用领域、测量范围、优缺点等.
以納米碳痠鈣粒子作為測量對象,分彆採用x射線衍射法(XRD)、透射電子顯微鏡法(TEM)及原子力顯微鏡法(AFM)測量其粒徑.結果錶明:x射線衍射法測量的納米粒子粒徑可能小于納米粒子實際平均粒徑,透射電子顯微鏡法和原子力顯微鏡法測量的納米粒子粒徑可能大于納米粒子實際平均粒徑.分析探討瞭3種方法的應用領域、測量範圍、優缺點等.
이납미탄산개입자작위측량대상,분별채용x사선연사법(XRD)、투사전자현미경법(TEM)급원자력현미경법(AFM)측량기립경.결과표명:x사선연사법측량적납미입자립경가능소우납미입자실제평균립경,투사전자현미경법화원자력현미경법측량적납미입자립경가능대우납미입자실제평균립경.분석탐토료3충방법적응용영역、측량범위、우결점등.
