中国集成电路
中國集成電路
중국집성전로
CHINA INTEGRATED CIRCUIT
2007年
3期
68-72
,共5页
面向芯片设计的测试%EDA-Linkagc%快速响应市场%提升新产品品质
麵嚮芯片設計的測試%EDA-Linkagc%快速響應市場%提升新產品品質
면향심편설계적측시%EDA-Linkagc%쾌속향응시장%제승신산품품질
SoC芯片的发展使集成电路测试重要性越来越明显,传统的测试概念已经不适用现在和将来的集成电路测试需求.本文将详细分析这个问题,列举在集成电路测试中面临的问题,引出一种面向芯片设计的新的测试理念,并介绍基于这一理念的一系列新的解决方案,分别对应快速响应市场的需求和提升新产品品质的需求.
SoC芯片的髮展使集成電路測試重要性越來越明顯,傳統的測試概唸已經不適用現在和將來的集成電路測試需求.本文將詳細分析這箇問題,列舉在集成電路測試中麵臨的問題,引齣一種麵嚮芯片設計的新的測試理唸,併介紹基于這一理唸的一繫列新的解決方案,分彆對應快速響應市場的需求和提升新產品品質的需求.
SoC심편적발전사집성전로측시중요성월래월명현,전통적측시개념이경불괄용현재화장래적집성전로측시수구.본문장상세분석저개문제,열거재집성전로측시중면림적문제,인출일충면향심편설계적신적측시이념,병개소기우저일이념적일계렬신적해결방안,분별대응쾌속향응시장적수구화제승신산품품질적수구.
