半导体技术
半導體技術
반도체기술
SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY
2006年
12期
926-929,934
,共5页
成本茂%鞠艳秋%王红%杨士元
成本茂%鞠豔鞦%王紅%楊士元
성본무%국염추%왕홍%양사원
存储器%测试矢量集%结构测试%功能测试
存儲器%測試矢量集%結構測試%功能測試
존저기%측시시량집%결구측시%공능측시
提出了含存储器数字电路板的两种测试矢量集(TPS)开发方案.对含少量存储器芯片的电路板采用结构化的测试方案,即将RAM等效成时序电路模型,利用时序电路ATPG软件进行测试生成.对以RAM为主的存储器板提出了一种功能测试方案,采取压缩地址空间的方法,对RAM阵列进行读写操作.实际应用证明,这两种方案较好地满足了实际应用中的需要.
提齣瞭含存儲器數字電路闆的兩種測試矢量集(TPS)開髮方案.對含少量存儲器芯片的電路闆採用結構化的測試方案,即將RAM等效成時序電路模型,利用時序電路ATPG軟件進行測試生成.對以RAM為主的存儲器闆提齣瞭一種功能測試方案,採取壓縮地阯空間的方法,對RAM陣列進行讀寫操作.實際應用證明,這兩種方案較好地滿足瞭實際應用中的需要.
제출료함존저기수자전로판적량충측시시량집(TPS)개발방안.대함소량존저기심편적전로판채용결구화적측시방안,즉장RAM등효성시서전로모형,이용시서전로ATPG연건진행측시생성.대이RAM위주적존저기판제출료일충공능측시방안,채취압축지지공간적방법,대RAM진렬진행독사조작.실제응용증명,저량충방안교호지만족료실제응용중적수요.
