大学化学
大學化學
대학화학
UNIVERSITY CHEMISTRY
2009年
2期
1-6,9
,共7页
掠入射X射线技术是一种表征高分子薄膜的结晶性、厚度、界面粗糙度等物理量的新方法,本文简单介绍了这种技术中X射线反射率法和掠入射X射线衍射法的基本原理、测试和分析方法以及这些方法在高分子薄膜研究中的应用.
掠入射X射線技術是一種錶徵高分子薄膜的結晶性、厚度、界麵粗糙度等物理量的新方法,本文簡單介紹瞭這種技術中X射線反射率法和掠入射X射線衍射法的基本原理、測試和分析方法以及這些方法在高分子薄膜研究中的應用.
략입사X사선기술시일충표정고분자박막적결정성、후도、계면조조도등물리량적신방법,본문간단개소료저충기술중X사선반사솔법화략입사X사선연사법적기본원리、측시화분석방법이급저사방법재고분자박막연구중적응용.
