中国科技博览
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중국과기박람
CHINA SCIENCE AND TECHNOLOGY REVIEW
2008年
21期
25
,共1页
数字电路%系统芯片%测试%可测性设计
數字電路%繫統芯片%測試%可測性設計
수자전로%계통심편%측시%가측성설계
电路集成度的迅速增加使电路的测试越来越困难且代价昂贵,对此一种有效方法是对电路进行可测性设计.本文结合该方面的发展状况,对大规模集成电路的可测性、边界扫描测试、数模混合电路与专用集成电路的边界扫描测试、系统芯片的可测性设计等进行了讨论.
電路集成度的迅速增加使電路的測試越來越睏難且代價昂貴,對此一種有效方法是對電路進行可測性設計.本文結閤該方麵的髮展狀況,對大規模集成電路的可測性、邊界掃描測試、數模混閤電路與專用集成電路的邊界掃描測試、繫統芯片的可測性設計等進行瞭討論.
전로집성도적신속증가사전로적측시월래월곤난차대개앙귀,대차일충유효방법시대전로진행가측성설계.본문결합해방면적발전상황,대대규모집성전로적가측성、변계소묘측시、수모혼합전로여전용집성전로적변계소묘측시、계통심편적가측성설계등진행료토론.
