微电子学与计算机
微電子學與計算機
미전자학여계산궤
MICROELECTRONICS & COMPUTER
2006年
3期
139-142
,共4页
微电子技术%嵌入式测试%研究与设计%测试矢量压缩
微電子技術%嵌入式測試%研究與設計%測試矢量壓縮
미전자기술%감입식측시%연구여설계%측시시량압축
EDT(embedded deterministic test)是目前最有效的针对大规模片上系统的嵌入式测试方法,与常规基于ATPG的DFT(Design For Testability)技术相比较,可以在保持相同缺陷覆盖率的情况下,大幅度降低测试成本,缩短测试时间,EDT的关键技术是解压缩器的算法设计,本文研究基于环形发生器的解压缩器设计,它不会对系统的逻辑核进行任何改动,如插入新的测试点或带来新的逻辑不确定态,可以获得40倍以上的压缩率,而且全部设计是基于标准的扫描/ATPG技术,可以非常方便的在SOC(system on chip)设计环境中实现.在最后部分,我们研究了采用环形发生器解压缩器,在不同容量的SOC系统的EDT设计结果.
EDT(embedded deterministic test)是目前最有效的針對大規模片上繫統的嵌入式測試方法,與常規基于ATPG的DFT(Design For Testability)技術相比較,可以在保持相同缺陷覆蓋率的情況下,大幅度降低測試成本,縮短測試時間,EDT的關鍵技術是解壓縮器的算法設計,本文研究基于環形髮生器的解壓縮器設計,它不會對繫統的邏輯覈進行任何改動,如插入新的測試點或帶來新的邏輯不確定態,可以穫得40倍以上的壓縮率,而且全部設計是基于標準的掃描/ATPG技術,可以非常方便的在SOC(system on chip)設計環境中實現.在最後部分,我們研究瞭採用環形髮生器解壓縮器,在不同容量的SOC繫統的EDT設計結果.
EDT(embedded deterministic test)시목전최유효적침대대규모편상계통적감입식측시방법,여상규기우ATPG적DFT(Design For Testability)기술상비교,가이재보지상동결함복개솔적정황하,대폭도강저측시성본,축단측시시간,EDT적관건기술시해압축기적산법설계,본문연구기우배형발생기적해압축기설계,타불회대계통적라집핵진행임하개동,여삽입신적측시점혹대래신적라집불학정태,가이획득40배이상적압축솔,이차전부설계시기우표준적소묘/ATPG기술,가이비상방편적재SOC(system on chip)설계배경중실현.재최후부분,아문연구료채용배형발생기해압축기,재불동용량적SOC계통적EDT설계결과.
