微处理机
微處理機
미처리궤
MICROPROCESSORS
2006年
2期
11-13
,共3页
系统级芯片%设计%功能验证%断言%功能测试%随机测试激励
繫統級芯片%設計%功能驗證%斷言%功能測試%隨機測試激勵
계통급심편%설계%공능험증%단언%공능측시%수궤측시격려
简要分析了传统集成电路(ASIC)验证方法的特点以及将这些方法应用于系统级芯片(SoC)验证时所面临的问题.在此基础上,论述说明了模块级验证是提高SoC验证效率的基础;而基于随机测试激励的验证方法能够提升SoC的功能验证的覆盖率.另外,还介绍了用于SoC功能验证的关键方法,包括断言和RTL形式验证,Farm,随机化测试激励和功能覆盖等.
簡要分析瞭傳統集成電路(ASIC)驗證方法的特點以及將這些方法應用于繫統級芯片(SoC)驗證時所麵臨的問題.在此基礎上,論述說明瞭模塊級驗證是提高SoC驗證效率的基礎;而基于隨機測試激勵的驗證方法能夠提升SoC的功能驗證的覆蓋率.另外,還介紹瞭用于SoC功能驗證的關鍵方法,包括斷言和RTL形式驗證,Farm,隨機化測試激勵和功能覆蓋等.
간요분석료전통집성전로(ASIC)험증방법적특점이급장저사방법응용우계통급심편(SoC)험증시소면림적문제.재차기출상,논술설명료모괴급험증시제고SoC험증효솔적기출;이기우수궤측시격려적험증방법능구제승SoC적공능험증적복개솔.령외,환개소료용우SoC공능험증적관건방법,포괄단언화RTL형식험증,Farm,수궤화측시격려화공능복개등.
