硅条探测器前端ASIC芯片测试系统电路设计
규조탐측기전단ASIC심편측시계통전로설계
A testing system circuit for front-end ASIC of silicon strip detector
  • 万方数据
    核技术 핵기술
    NUCLEAR TECHNIQUES
    2008年 3期 229-232 ,共4页

    千奕%苏弘%徐四九%李小刚

    천혁%소홍%서사구%리소강

    硅条探测器%前端ASIC%测试系统%硬件设计 硅條探測器%前耑ASIC%測試繫統%硬件設計
    규조탐측기%전단ASIC%측시계통%경건설계
    介绍一种前端读出专用集成电路(ASIC,Application-Specific Integrated Circuit)芯片性能测试系统的电路设计与实现.该ASIC芯片可用于构成硅微条探测器、硅条、Si(Li)和CsI探测器的前端读出电子学系统.本文详细描述了测试系统的构成,主要电路设计,系统应用以及部分测试结果,并简要介绍了被测ASIC芯片的电路结构.
    개소일충전단독출전용집성전로(ASIC,Application-Specific Integrated Circuit)심편성능측시계통적전로설계여실현.해ASIC심편가용우구성규미조탐측기、규조、Si(Li)화CsI탐측기적전단독출전자학계통.본문상세묘술료측시계통적구성,주요전로설계,계통응용이급부분측시결과,병간요개소료피측ASIC심편적전로결구.
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