电子器件
電子器件
전자기건
JOURNAL OF ELECTRON DEVICES
2011年
6期
713-717
,共5页
测试仪%幅频特性%相频特性%FPGA%数字化
測試儀%幅頻特性%相頻特性%FPGA%數字化
측시의%폭빈특성%상빈특성%FPGA%수자화
为了更好地利用频率特性测试仪,也称扫频仪(FSI),测量被测电路网络的幅频特性和相频特性,提出了一种基于FPGA核心的新型频率特性测试仪设计方案.并在此基础上实现了测量500 Hz至125 kHz带宽的幅频特性和相频特性的功能,各项指标的仿真结果与实测结果高度吻合,与点频测量法相比较误差在5％以内,并在小型化,数字化,低功耗方面有所特色.
為瞭更好地利用頻率特性測試儀,也稱掃頻儀(FSI),測量被測電路網絡的幅頻特性和相頻特性,提齣瞭一種基于FPGA覈心的新型頻率特性測試儀設計方案.併在此基礎上實現瞭測量500 Hz至125 kHz帶寬的幅頻特性和相頻特性的功能,各項指標的倣真結果與實測結果高度吻閤,與點頻測量法相比較誤差在5％以內,併在小型化,數字化,低功耗方麵有所特色.
위료경호지이용빈솔특성측시의,야칭소빈의(FSI),측량피측전로망락적폭빈특성화상빈특성,제출료일충기우FPGA핵심적신형빈솔특성측시의설계방안.병재차기출상실현료측량500 Hz지125 kHz대관적폭빈특성화상빈특성적공능,각항지표적방진결과여실측결과고도문합,여점빈측량법상비교오차재5％이내,병재소형화,수자화,저공모방면유소특색.
