微处理机
微處理機
미처리궤
MICROPROCESSORS
2009年
4期
18-20
,共3页
实速测试%片上时钟电路%测试时钟产生
實速測試%片上時鐘電路%測試時鐘產生
실속측시%편상시종전로%측시시종산생
speed扫描测试已经代替at-speed功能测试,成为要求高测试质量和较低DPM的必需手段.本文将介绍st-speed测试的原理,以及一种支持at-speed测试的时钟产生电路--OCC(On-chip clock)电路.
speed掃描測試已經代替at-speed功能測試,成為要求高測試質量和較低DPM的必需手段.本文將介紹st-speed測試的原理,以及一種支持at-speed測試的時鐘產生電路--OCC(On-chip clock)電路.
speed소묘측시이경대체at-speed공능측시,성위요구고측시질량화교저DPM적필수수단.본문장개소st-speed측시적원리,이급일충지지at-speed측시적시종산생전로--OCC(On-chip clock)전로.
