CAJ | 학술논문

目的:研究一种有效面积为1 cm×1 cm的半导体探测器对钼靶X射线的响应情况、探测器的输出与胶片达到质控密度时所需曝光量的函数关系,以期将此探测器实际应用于高频乳腺X线摄影AEC控制系统中.方法:将探测器置于暗盒下部,焦片距63 cm,利用高频乳腺X线机分别在28 kV和35 kV管电压情况下对不同厚度组体模照射,测量探测器输出,分析探测器对经体模衰减后的软X射线响应情况;对不同厚度组体模阶梯状排列以不同摄影条件拍摄胶片、测量各阶梯对应密度值,分析在胶片密度为1.0和1.25时,体模厚度与所需曝光量的函数关系,再进一步分析设定密度时探测器输出值与所需曝光量的函数关系.结果:探测器输出与体模厚度之间符合V=V0e-cx函数关系;设定胶片密度时,探测器输出值与所需曝光量之间符合J=J0(V0)k/cV-k/c函数关系.结论:进行相应的电路和控制程序设计,可将此探测器应用于实际的高频乳腺X线摄影自动曝光控制系统中,实现管电压和mAs的自动控制.
목적:연구일충유효면적위1 cm×1 cm적반도체탐측기대목파X사선적향응정황、탐측기적수출여효편체도질공밀도시소수폭광량적함수관계,이기장차탐측기실제응용우고빈유선X선섭영AEC공제계통중.방법:장탐측기치우암합하부,초편거63 cm,이용고빈유선X선궤분별재28 kV화35 kV관전압정황하대불동후도조체모조사,측량탐측기수출,분석탐측기대경체모쇠감후적연X사선향응정황;대불동후도조체모계제상배렬이불동섭영조건박섭효편、측량각계제대응밀도치,분석재효편밀도위1.0화1.25시,체모후도여소수폭광량적함수관계,재진일보분석설정밀도시탐측기수출치여소수폭광량적함수관계.결과:탐측기수출여체모후도지간부합V=V0e-cx함수관계;설정효편밀도시,탐측기수출치여소수폭광량지간부합J=J0(V0)k/cV-k/c함수관계.결론:진행상응적전로화공제정서설계,가장차탐측기응용우실제적고빈유선X선섭영자동폭광공제계통중,실현관전압화mAs적자동공제.