电子与封装
電子與封裝
전자여봉장
EIECTRONICS AND PACKAGING
2008年
3期
28-30,34
,共4页
测试%测试向量%A/D转换器
測試%測試嚮量%A/D轉換器
측시%측시향량%A/D전환기
集成电路测试是保证产品质量的重要手段,如何检测MCU类复杂大规模集成电路是测试的难点.文章以实际测试过的电路80C196KC为例,详细地介绍了"硬件学习法"生成测试码点的硬件构成和测试向量的采集方法.为实现对80C196KC丰富指令及各种寻址方式的完全测试,给出了测试指令的序列结构和数据结构.在此基础上给出了生成测试向量、测试A/D转换器及直流、交流参数的测试方法.
集成電路測試是保證產品質量的重要手段,如何檢測MCU類複雜大規模集成電路是測試的難點.文章以實際測試過的電路80C196KC為例,詳細地介紹瞭"硬件學習法"生成測試碼點的硬件構成和測試嚮量的採集方法.為實現對80C196KC豐富指令及各種尋阯方式的完全測試,給齣瞭測試指令的序列結構和數據結構.在此基礎上給齣瞭生成測試嚮量、測試A/D轉換器及直流、交流參數的測試方法.
집성전로측시시보증산품질량적중요수단,여하검측MCU류복잡대규모집성전로시측시적난점.문장이실제측시과적전로80C196KC위례,상세지개소료"경건학습법"생성측시마점적경건구성화측시향량적채집방법.위실현대80C196KC봉부지령급각충심지방식적완전측시,급출료측시지령적서렬결구화수거결구.재차기출상급출료생성측시향량、측시A/D전환기급직류、교류삼수적측시방법.
