EDN CHINA 电子设计技术
EDN CHINA 電子設計技術
EDN CHINA 전자설계기술
2011年
9期
70-70
,共1页
电解电容%电路%测试%陶瓷电容%1nF%电容值%CRE%泄漏
電解電容%電路%測試%陶瓷電容%1nF%電容值%CRE%洩漏
전해전용%전로%측시%도자전용%1nF%전용치%CRE%설루
电解电容会随时间而泄漏。图1中的电路可以用来测试电容，决定它们是否值得使用。通过CREF／RREF比值可以设定对泄漏的限制条件。图中的值适用于所有电容的一般测试．从1nF的陶瓷电容，到1000μF的电解电容。电路中，CREF值接近于待测电容值CX.
電解電容會隨時間而洩漏。圖1中的電路可以用來測試電容，決定它們是否值得使用。通過CREF／RREF比值可以設定對洩漏的限製條件。圖中的值適用于所有電容的一般測試．從1nF的陶瓷電容，到1000μF的電解電容。電路中，CREF值接近于待測電容值CX.
전해전용회수시간이설루。도1중적전로가이용래측시전용，결정타문시부치득사용。통과CREF／RREF비치가이설정대설루적한제조건。도중적치괄용우소유전용적일반측시．종1nF적도자전용，도1000μF적전해전용。전로중，CREF치접근우대측전용치CX.
