电子测试
電子測試
전자측시
ELECTRONIC TEST
2007年
12期
43-46
,共4页
FPGA%测试%CLB%配置
FPGA%測試%CLB%配置
FPGA%측시%CLB%배치
本文以Xilinx公司基于SRAM的FPGA XC4010为研究对象,将FPGA配置成两种电路来完成对可编程逻辑模块(CLB)的测试,并阐述了如何在Teradyne商用ATE(Automatic Test Equipment)J750上实现FPGA的在线配置及测试,为FPGA面向应用的测试提供一种有效的方法.
本文以Xilinx公司基于SRAM的FPGA XC4010為研究對象,將FPGA配置成兩種電路來完成對可編程邏輯模塊(CLB)的測試,併闡述瞭如何在Teradyne商用ATE(Automatic Test Equipment)J750上實現FPGA的在線配置及測試,為FPGA麵嚮應用的測試提供一種有效的方法.
본문이Xilinx공사기우SRAM적FPGA XC4010위연구대상,장FPGA배치성량충전로래완성대가편정라집모괴(CLB)적측시,병천술료여하재Teradyne상용ATE(Automatic Test Equipment)J750상실현FPGA적재선배치급측시,위FPGA면향응용적측시제공일충유효적방법.
