台州学院学报
檯州學院學報
태주학원학보
JOURNAL OF TAIZHOU UNIVERSITY
2003年
6期
29-31
,共3页
纯铁膜%金属性%半导体性%临界厚度
純鐵膜%金屬性%半導體性%臨界厚度
순철막%금속성%반도체성%림계후도
采用直流磁控溅射的方法,制备了一系列不同厚度的纯铁膜,并测量了它们的阻温(R-T)特性.研究表明,样品的R-T特性与镀膜时间,即膜的厚度有关.在同一系列中,随样品厚度的增加,R-T关系呈现出由半导体特性向金属性渡越的特征.
採用直流磁控濺射的方法,製備瞭一繫列不同厚度的純鐵膜,併測量瞭它們的阻溫(R-T)特性.研究錶明,樣品的R-T特性與鍍膜時間,即膜的厚度有關.在同一繫列中,隨樣品厚度的增加,R-T關繫呈現齣由半導體特性嚮金屬性渡越的特徵.
채용직류자공천사적방법,제비료일계렬불동후도적순철막,병측량료타문적조온(R-T)특성.연구표명,양품적R-T특성여도막시간,즉막적후도유관.재동일계렬중,수양품후도적증가,R-T관계정현출유반도체특성향금속성도월적특정.
