计算机测量与控制
計算機測量與控製
계산궤측량여공제
COMPUTER MEASUREMENT & CONTROL
2009年
8期
1473-1475,1478
,共4页
SoC片上系统%IDDQ测试%可测性设计
SoC片上繫統%IDDQ測試%可測性設計
SoC편상계통%IDDQ측시%가측성설계
超深亚微米工艺和基于可复用嵌入式IP模块的系统级芯片(SoC)设计方法使测试面临新的挑战,需要研究开发新的测试方法和策略;本文首先介绍了在CMOS集成电路中的IDDQ测试方法,介绍其基本原理,展示了测试的优越性,CMOS IC本质上是电流可测试,IDDQ和功能测试相结合.可大大改善故障覆盖率,提高测试的有效性;最后提出了一种基于IDDQ扫描的SOC可测性方案,是在SoC扫描测试中插入IDDQ的测试方法,这是一种基于BICS复用的测试技术,并给出了仿真结果最后得出结论.
超深亞微米工藝和基于可複用嵌入式IP模塊的繫統級芯片(SoC)設計方法使測試麵臨新的挑戰,需要研究開髮新的測試方法和策略;本文首先介紹瞭在CMOS集成電路中的IDDQ測試方法,介紹其基本原理,展示瞭測試的優越性,CMOS IC本質上是電流可測試,IDDQ和功能測試相結閤.可大大改善故障覆蓋率,提高測試的有效性;最後提齣瞭一種基于IDDQ掃描的SOC可測性方案,是在SoC掃描測試中插入IDDQ的測試方法,這是一種基于BICS複用的測試技術,併給齣瞭倣真結果最後得齣結論.
초심아미미공예화기우가복용감입식IP모괴적계통급심편(SoC)설계방법사측시면림신적도전,수요연구개발신적측시방법화책략;본문수선개소료재CMOS집성전로중적IDDQ측시방법,개소기기본원리,전시료측시적우월성,CMOS IC본질상시전류가측시,IDDQ화공능측시상결합.가대대개선고장복개솔,제고측시적유효성;최후제출료일충기우IDDQ소묘적SOC가측성방안,시재SoC소묘측시중삽입IDDQ적측시방법,저시일충기우BICS복용적측시기술,병급출료방진결과최후득출결론.
