半导体可饱和吸收镜的光损伤阈值测量
반도체가포화흡수경적광손상역치측량
Measurement of Damage Threshold of Semiconductor Saturable-Absorber Mirrors
  • 万方数据
    纳米技术与精密工程 납미기술여정밀공정
    NANOTECHNOLOGY AND PRECISION ENGINEERING
    2005年 2期 142-145 ,共4页

    李建萍%曹士英%吴祖斌%王勇刚%张志刚%王清月%赵友博%朱晓农

    리건평%조사영%오조빈%왕용강%장지강%왕청월%조우박%주효농

    半导体可饱和吸收镜%损伤阈值%飞秒脉冲激光 半導體可飽和吸收鏡%損傷閾值%飛秒脈遲激光
    반도체가포화흡수경%손상역치%비초맥충격광
    半导体可饱和吸收镜(SESAM)在飞秒脉冲激光器锁模中,是一种非常有潜力的锁模启动器.其损伤阈值的高低与连续锁模阈值比较相近,极易损伤,因而研究在飞秒激光作用下SESAM的损伤阈值很有必要.利用飞秒激光分别对单晶硅、自然生长SESAM及腐蚀后SESAM在50fs、200fs和400fs脉宽下进行了表面烧蚀研究,并且保证每次烧蚀的激光脉冲个数为50个.结果发现单晶硅和自然生长SESAM的损伤阈值要高于腐蚀后SESAM,随脉宽的增加而逐渐增大;而腐蚀后SESAM的损伤阈值却随脉宽的增加而逐渐减小.
    반도체가포화흡수경(SESAM)재비초맥충격광기쇄모중,시일충비상유잠력적쇄모계동기.기손상역치적고저여련속쇄모역치비교상근,겁역손상,인이연구재비초격광작용하SESAM적손상역치흔유필요.이용비초격광분별대단정규、자연생장SESAM급부식후SESAM재50fs、200fs화400fs맥관하진행료표면소식연구,병차보증매차소식적격광맥충개수위50개.결과발현단정규화자연생장SESAM적손상역치요고우부식후SESAM,수맥관적증가이축점증대;이부식후SESAM적손상역치각수맥관적증가이축점감소.
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