半导体技术
半導體技術
반도체기술
SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY
2006年
2期
135-138
,共4页
可靠性%标准%质量控制
可靠性%標準%質量控製
가고성%표준%질량공제
通过对GJB548"微电子器件试验方法和程序"顶层结构的剖析和典型具体细微内容的研究,对本标准的科学性、涉及学科的广泛性和先进性、可操作性及整体水平做出了评价;对如何学习、使用GJB548"微电子器件试验方法和程序"阐述了意见;倡导在正确使用的基础上,深入研究标准中执行条款的依据;最后对如何通过吐故纳新使GJB548"微电子器件试验方法和程序"与时俱进,以适应高可靠电子元器件发展对质量控制标准的要求提出了建议.
通過對GJB548"微電子器件試驗方法和程序"頂層結構的剖析和典型具體細微內容的研究,對本標準的科學性、涉及學科的廣汎性和先進性、可操作性及整體水平做齣瞭評價;對如何學習、使用GJB548"微電子器件試驗方法和程序"闡述瞭意見;倡導在正確使用的基礎上,深入研究標準中執行條款的依據;最後對如何通過吐故納新使GJB548"微電子器件試驗方法和程序"與時俱進,以適應高可靠電子元器件髮展對質量控製標準的要求提齣瞭建議.
통과대GJB548"미전자기건시험방법화정서"정층결구적부석화전형구체세미내용적연구,대본표준적과학성、섭급학과적엄범성화선진성、가조작성급정체수평주출료평개;대여하학습、사용GJB548"미전자기건시험방법화정서"천술료의견;창도재정학사용적기출상,심입연구표준중집행조관적의거;최후대여하통과토고납신사GJB548"미전자기건시험방법화정서"여시구진,이괄응고가고전자원기건발전대질량공제표준적요구제출료건의.
