电子质量
電子質量
전자질량
ELECTRONICS QUALITY
2011年
8期
20-22
,共3页
模拟电路%故障分析方法
模擬電路%故障分析方法
모의전로%고장분석방법
analog circuit%malfunction detect method
随着电子技术的飞速发展,集成电路的应用覆盖了社会的方方面面,但集成电路模拟部分故障难于分析与诊断的问题在很大程度上限制了它的开发维修成本与实际工作效应。该文分析了经典与现代的模拟电路故障分析方法,比较了他们的优点与不足,并结合实际状况提出新的故障分析与诊断方法的研究思路。
隨著電子技術的飛速髮展,集成電路的應用覆蓋瞭社會的方方麵麵,但集成電路模擬部分故障難于分析與診斷的問題在很大程度上限製瞭它的開髮維脩成本與實際工作效應。該文分析瞭經典與現代的模擬電路故障分析方法,比較瞭他們的優點與不足,併結閤實際狀況提齣新的故障分析與診斷方法的研究思路。
수착전자기술적비속발전,집성전로적응용복개료사회적방방면면,단집성전로모의부분고장난우분석여진단적문제재흔대정도상한제료타적개발유수성본여실제공작효응。해문분석료경전여현대적모의전로고장분석방법,비교료타문적우점여불족,병결합실제상황제출신적고장분석여진단방법적연구사로。
With the development of the electronic technique,it＇s more popular of the application of integrated circuit（IC）.But it＇s very difficult to find out the malfunction of analog part of IC,that enhances the cost of exploiture and maintenance of IC,and reduces its work efficiency.This paper analyzes typical and present-day methods of malfunction detect of analog part of IC,compares its advantages and shortcomings.At last,a new malfunction detect method＇s idea is proposed basing on practicality.
