CAJ | 학술논문

以单质Bi,Sb和Te粉末为原材料,通过真空电弧等离子体蒸发法合成了(Bi<,x>Sb<,1-x>)<,2>Te<,3>热电粉末材料.采用X射线衍射(XRD)、能谱分析(EDS),场发射扫描电子显微术(FE-SEM),透射电子显微术(TEM)和选区电子衍射(SAED)分析方法对(Bi<,x>Sb<,1-x>)<,2>Te<,3>粉末材料的物相结构、成分和形貌进行了表征.XRD图谱的3强衍射峰分别为(015),(1010)和(110),(Bi<,x>Sb<,1-x>)<,2>Te<,3>纳米粉末的XRD图谱与标准XPD图谱峰(49-1713)相对应,宽化的衍射峰表明了粉末的晶粒具有纳米尺度.能谱定量分析表明Bi和Sb的原子百分比分别为18.1%,20.3%,两者原子百分比之和为38.4%,Te的原子百分比是61.6%.场发射扫描电子显微分析表明纳米粉末颗粒尺寸比较均匀,粉末存在团聚现象,大多数粉末都呈椭球形.透射电子显微分析表明(Bi<,x>Sb<,1-x>)<,2>Te<,3>纳米粉末的平均粒径约为50 mm,粉末呈不规则的多面体结构,还有一些薄片状和棒状的结构,这与Bi<,2>Te<,3>基半导体化合物的高度各向异性是一致的.(Bi<,x>Sb<,1-x>)<,2>Te<,3>纳米粉末的选区电子衍射图表明每一个颗粒是由许多小晶核组成的,证明了颗粒是以纳米尺度生长.由于晶粒取向随机,且晶粒细小引起有许多衍射斑组成的衍射环的宽化,揭示了(Bi<,x>Sb<,1-x>)<,2>Te<,3>纳米粉末的多晶结构.
이단질Bi,Sb화Te분말위원재료,통과진공전호등리자체증발법합성료(Bi<,x>Sb<,1-x>)<,2>Te<,3>열전분말재료.채용X사선연사(XRD)、능보분석(EDS),장발사소묘전자현미술(FE-SEM),투사전자현미술(TEM)화선구전자연사(SAED)분석방법대(Bi<,x>Sb<,1-x>)<,2>Te<,3>분말재료적물상결구、성분화형모진행료표정.XRD도보적3강연사봉분별위(015),(1010)화(110),(Bi<,x>Sb<,1-x>)<,2>Te<,3>납미분말적XRD도보여표준XPD도보봉(49-1713)상대응,관화적연사봉표명료분말적정립구유납미척도.능보정량분석표명Bi화Sb적원자백분비분별위18.1%,20.3%,량자원자백분비지화위38.4%,Te적원자백분비시61.6%.장발사소묘전자현미분석표명납미분말과립척촌비교균균,분말존재단취현상,대다수분말도정타구형.투사전자현미분석표명(Bi<,x>Sb<,1-x>)<,2>Te<,3>납미분말적평균립경약위50 mm,분말정불규칙적다면체결구,환유일사박편상화봉상적결구,저여Bi<,2>Te<,3>기반도체화합물적고도각향이성시일치적.(Bi<,x>Sb<,1-x>)<,2>Te<,3>납미분말적선구전자연사도표명매일개과립시유허다소정핵조성적,증명료과립시이납미척도생장.유우정립취향수궤,차정립세소인기유허다연사반조성적연사배적관화,게시료(Bi<,x>Sb<,1-x>)<,2>Te<,3>납미분말적다정결구.