计算机工程与应用
計算機工程與應用
계산궤공정여응용
COMPUTER ENGINEERING AND APPLICATIONS
2002年
16期
191-194
,共4页
李华伟%李晓维%尹志刚%吕涛%何蓉晖
李華偉%李曉維%尹誌剛%呂濤%何蓉暉
리화위%리효유%윤지강%려도%하용휘
通用CPU%可测试性设计%扫描设计
通用CPU%可測試性設計%掃描設計
통용CPU%가측시성설계%소묘설계
可测试性设计(Design-For-Testability,简称DFT)是芯片设计的重要环节,它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性的硬件逻辑,从而使芯片变得容易测试,大幅度节省芯片测试的成本.文中介绍了在一款通用CPU芯片的设计过程中,为提高芯片的易测性而采取的各种可测试性设计技术,主要包括扫描设计(Scan Design)、存储器内建自测试(Build-in-seIf-test,简称BIST)以及与IEEE1149.1标准兼容的边界扫描设计(Boundary Scan Design,简称BSD)等技术.这些技术的使用为该芯片提供了方便可靠的测试方案.
可測試性設計(Design-For-Testability,簡稱DFT)是芯片設計的重要環節,它通過在芯片原始設計中插入各種用于提高芯片可測試性的硬件邏輯,從而使芯片變得容易測試,大幅度節省芯片測試的成本.文中介紹瞭在一款通用CPU芯片的設計過程中,為提高芯片的易測性而採取的各種可測試性設計技術,主要包括掃描設計(Scan Design)、存儲器內建自測試(Build-in-seIf-test,簡稱BIST)以及與IEEE1149.1標準兼容的邊界掃描設計(Boundary Scan Design,簡稱BSD)等技術.這些技術的使用為該芯片提供瞭方便可靠的測試方案.
가측시성설계(Design-For-Testability,간칭DFT)시심편설계적중요배절,타통과재심편원시설계중삽입각충용우제고심편가측시성적경건라집,종이사심편변득용역측시,대폭도절성심편측시적성본.문중개소료재일관통용CPU심편적설계과정중,위제고심편적역측성이채취적각충가측시성설계기술,주요포괄소묘설계(Scan Design)、존저기내건자측시(Build-in-seIf-test,간칭BIST)이급여IEEE1149.1표준겸용적변계소묘설계(Boundary Scan Design,간칭BSD)등기술.저사기술적사용위해심편제공료방편가고적측시방안.
