电路与系统学报
電路與繫統學報
전로여계통학보
JOURNAL OF CIRCUITS AND SYSTEMS
2012年
3期
26-30
,共5页
可制造性设计%光刻热点%离散余弦变换%支持向量机%遗传算法
可製造性設計%光刻熱點%離散餘絃變換%支持嚮量機%遺傳算法
가제조성설계%광각열점%리산여현변환%지지향량궤%유전산법
提出一种基于支持向量机( SVM)及多目标遗传算法(GA)的集成电路版图光刻热点检测方法.首先对版图样本进行离散余弦变换(DCT)以提取样本的频域特征,然后基于这些样本训练SVM分类器以实现对光刻热点的检测.采用多目标遗传算法(GA)对频域特征进行选择,并同时优化SVM分类器的相关参数.实验结果表明,本光刻热点检测方法可以有效提高版图光刻热点检测的精度和效率.
提齣一種基于支持嚮量機( SVM)及多目標遺傳算法(GA)的集成電路版圖光刻熱點檢測方法.首先對版圖樣本進行離散餘絃變換(DCT)以提取樣本的頻域特徵,然後基于這些樣本訓練SVM分類器以實現對光刻熱點的檢測.採用多目標遺傳算法(GA)對頻域特徵進行選擇,併同時優化SVM分類器的相關參數.實驗結果錶明,本光刻熱點檢測方法可以有效提高版圖光刻熱點檢測的精度和效率.
제출일충기우지지향량궤( SVM)급다목표유전산법(GA)적집성전로판도광각열점검측방법.수선대판도양본진행리산여현변환(DCT)이제취양본적빈역특정,연후기우저사양본훈련SVM분류기이실현대광각열점적검측.채용다목표유전산법(GA)대빈역특정진행선택,병동시우화SVM분류기적상관삼수.실험결과표명,본광각열점검측방법가이유효제고판도광각열점검측적정도화효솔.
